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聚創(chuàng  ) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X
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聚創(chuàng ) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X
能量色散型X熒光光譜儀 EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀
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商品描述

商品屬性

  聚創(chuàng ) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X

一、產(chǎn)品介紹 

   能量色散X熒光分析儀利用EDXRF技術(shù),采用X光管產(chǎn)生X射線(xiàn)激發(fā)樣品,先進(jìn)的SDD探測器探測元素特征X射線(xiàn),2048道數字化全譜分析,可以分析包括輕元素在內幾十種元素,具有分析速度快、分析精度高、分析范圍廣、穩定性好、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。

   在銅合金等金屬制造行業(yè)中,材料、半成品、成品的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制(QA/QC,該儀器是質(zhì)量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的常備儀器。生產(chǎn)者可以控制合金中的元素各成分含量,提高產(chǎn)品性能、減少次品和廢品,提高經(jīng)濟效益。

 

二、主要用途

主要用于銅合金、鋁合金、鋅合金、鑄鐵等原材料檢驗,冶煉生產(chǎn)過(guò)程成分控制,成品元素成分定值,爐前合金的快速分析和成品分析。

三、性能特點(diǎn)

☆.采用了美國新型的電致冷硅漂移SDD半導體探測器,具有高分辨率(125eV)和高探測效率;

☆.采用高真空度測樣裝置,消除了空氣對低能X射線(xiàn)的阻擋,滿(mǎn)足RoHS或合金檢測時(shí)對輕元素的準確分析;

☆.采用大功率的正高壓X光管和高壓發(fā)生器,提高了對輕重元素的檢測下限,實(shí)現了對多種元素的同時(shí)快速檢測分析;

☆.自動(dòng)開(kāi)蓋,無(wú)限平臺的設計適應多種不同大小規格樣品的檢測,可以測量固體、 液體、粉末樣品;

☆.內置彩色CCD攝像頭,使用戶(hù)可以精確定位檢測區域及時(shí)記錄所測樣品圖像信息;

☆.一體化的設計,使得儀器的性能穩定可靠、故障率低;

☆.采用USB-CAN適配器與計算機進(jìn)行通信,使用方便;

☆.自動(dòng)切換的濾片裝置有效的降低了光管的散射本底,提高了儀器測量的峰谷比和分辨率,使得重元素和微量元素的測量更準確;

☆.先進(jìn)的全數字化多道譜儀讓儀器測量時(shí)的數據采集和處理更加快速準確,極大的提高了儀器的穩定性和抗干擾的能力;

☆.自帶數據庫管理系統的全中文測量軟件讓儀器的測量更加方便,操作更加簡(jiǎn)單;

☆.多重安全的防護設計,使儀器的整機輻射符合國家輻射防護標準,讓用戶(hù)用的放心。

 

四、技術(shù)指標

1.分析元素范圍:Na-U

銅合金:Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等;

鑄鐵:Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等;

不銹鋼:Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等;

2.元素含量分析范圍:0.07ppm~99.9%;

3.探測器:電致冷硅漂移SDD半導體探測器(分辨率優(yōu)于139eV);

4.測量范圍:1~45KeV;

6.高壓:5kV~50kV;

7.管流:5μA~1000μA;

8.整機額定功率:50W;

9.CDD攝像頭分辨率:500萬(wàn)像素;

10.真空泵額定功率:550W;

11.10秒鐘真空度可達10-2Pa (高真空區域10-1~10-5Pa);

12.檢測時(shí)間:120s~300s(時(shí)間隨樣品不同可調整);

13.儀器重量:65Kg;

14.儀器尺寸:720(W)X440(D)X435(H)mm

 聚創(chuàng ) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X

商品屬性
[包裝數量] 1臺

商品標簽

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